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数字系统测试和可测性设计 【工业技术】
阿布拉莫维奇(Abramovici,M.),布鲁尔(Breuer,M.A.),弗里德曼(Friedman,A.D.)著2004 年出版652 页ISBN:7302077479本书共有15章,分为3部分。前8章为第一部分,主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等;第9至第1...
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