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半导体器件数值模拟计算方法的理论和应用 【工业技术】
袁益让,刘蕴贤著2018 年出版494 页ISBN:9787030519009半导体器件数值模拟的计算方法是现代计算数学和工业与应用数学的重要领域。半导体器件数值模拟,就是用电子计算机模拟半导体器件内部重要的物理特性和获取有效数据,是设计和研制半导体器件结构的有效工具。本...
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集成功率器件设计及TCAD仿真 【工业技术】
(加)付越等著;杨兵译2018 年出版321 页ISBN:9787111592730本书从电力电子到功率集成电路(PIC)、智能功率技术、器件等方面给电源管理和半导体产业提供了一个完整的描述。本书不仅介绍了集成功率半导体器件,如横向双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管(LDMOSFET)、横向绝...
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复合纳米粒子的制备与光电性能研究 【工业技术】
王超宇著2018 年出版126 页ISBN:9787122329639本书对复合纳米粒子的制备和性能进行了研究。首先设计了两种复合纳米粒子用作光子晶体材料,分别是二氧化硅/聚苯乙烯核壳结构纳米粒子和四氧化三铁/二氧化硅/聚苯乙烯核层壳结构纳米粒子。通过调整工艺参数,...
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碳化硅技术基本原理 生长、表征、器件和应用 【工业技术】
(日)木本恒畅(Tsunenobu Kimoto),(美)詹姆士A.库珀(James A. Cooper)著2018 年出版500 页ISBN:9787111586807本书是一本有关碳化硅材料、器件工艺、器件和应用方面的书籍,其主题包括碳化硅的物理特性、衬底和外延生长、电学和光学性能的表征、扩展缺陷和点缺陷,器件工艺、功率整流器和开关设备的设计理念,单/双极器件的...
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机载光电成像跟踪测量系统误差与像移分析 【航空航天】
金光著2018 年出版162 页ISBN:9787118116311本书将从成像全链路理论出发,对光电成像跟踪测量系统进行深入分析。全书共分为六章,第一章是对高精度测量和高清晰成像能力的信息化作战需求与光电成像跟踪测量设备进行了介绍;第二章介绍了机载光电成像跟踪测...
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光电线缆简易加工工艺 【工业技术】
王鹏,甘露编著2018 年出版308 页ISBN:9787564758523《光电线缆简易加工工艺》结合作者多年从事光电线缆产品设计、生产制造等积累的理论基础和丰富的实践经验,重点介绍了各类电线电缆的标准要求、结构特点、工艺技术、材料选型、常见问题及解决措施等内容,具有...
