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超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统 【工业技术】
(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译2005 年出版511 页ISBN:7121014904VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
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