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聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS 【数理化】
（英）D.布里格斯（D.Briggs）著；曹立礼，邓宗武译2001 年出版197 页ISBN：7502533974本书深入论述了X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)及其在聚合物材料研究中的应用，内容包括聚合物表面的重要性，X射线光电子谱(XPS)等。 ...
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